围手术期血糖水平对门静脉高压脾切除术后并发症的影响

• 作者: 张思泉 张清华 张雪峰 潘万能
• 来源期刊: 肝胆胰外科杂志
• 学科: 医学
• 关键词: 脾切除术 高血压,门静脉 并发症 围手术期 血糖
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 所属期刊栏目: 论著
• 页码范围: 285-287
• 页数: 3页
• 分类号: R657.34|R657.6
• 字数: 2878字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-1954.2009.04.010

摘要

目的 分析门脉高压脾切除术后的并发症及围手术期血糖水平对并发症的影响,探讨减少并发症的措施.方法 对我院115例门脉高压行脾切除患者的临床资料进行分析,着重分析围手术期血糖水平及并发症发生情况.结果 共有85例(73.9%)发生术后并发症,其中死亡6例(5.21%).对围手术期血糖水平与常见并发症的关系进行分析,发现术后平均血糖水平、术前口服葡萄糖耐量试验(oral glucose tolerance test,OGTT)2 h血糖升高主要引起术后出血和肺部感染.而对腹腔感染、门静脉血栓形成及胸腔积液影响不大.结论 门脉高压脾切除术后并发症发生率较高,对肝功能差、术前口服葡萄糖耐量试验异常者应慎行之,并应做好围手术期血糖的控制,减少并发症的发生.