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摘要:
TN模式的电荷累积缺陷,是液晶显示器生产中一个相当棘手问题.由于累积电荷量难于定量测量来进行研究,所以该问题一直悬而未决.着重分析了液晶显示器电荷累积缺陷,发现当它们介电常数与电导率的比值相差越大,电荷积累值越大;当取向层的介电常数与电导率的比值和液晶的不相等时,二者的交界面将产生电荷积聚;并且发现当取向层的介电常数与电导率的比值和液晶的相等时,二者的交界面将不产生电荷积聚,图像残留、显示速度减慢等问题也就可以消除.
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文献信息
篇名 液晶面板取向层与液晶层界面的电荷累积效应分析
来源期刊 发光学报 学科 工学
关键词 液晶显示器 电荷累积 介电常数
年,卷(期) 2009,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 123-125
页数 3页 分类号 TN873.93
字数 1735字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王秀峰 陕西科技大学电信学院 276 1311 17.0 22.0
2 席俭飞 陕西科技大学电信学院 8 42 4.0 6.0
3 张方晖 陕西科技大学电信学院 3 13 3.0 3.0
4 魏楠 陕西科技大学电信学院 9 29 3.0 5.0
5 朱晓娟 陕西科技大学电信学院 2 13 2.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
液晶显示器
电荷累积
介电常数
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
发光学报
月刊
1000-7032
22-1116/O4
大16开
长春市东南湖大路16号
12-312
1970
chi
出版文献量(篇)
4336
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7
总被引数(次)
29396
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