遥控器晶振寿命筛选电路设计

• 作者: 陈海斌
• 来源期刊: 家电科技
• 学科: 工学
• 关键词: 晶振 寿命 筛选 失效
• 年，卷（期）: 2009,（11）
• 所属期刊栏目: 发泡技术专题
• 页码范围: 47-48
• 页数: 2页
• 分类号: TM92
• 字数: 2069字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-0172.2009.11.025

摘要

晶振是遥控器控制电路中最关键的零部件之一,起着举足轻重的作用,而晶振的过早失效是造成遥控器故障的主要原因之一.本文从遥控器的工作原理和晶振的工作原理、失效模式及失效分析出发,阐述遥控器晶振寿命筛选电路的设计,来进行晶振寿命筛选,达到对晶振质量的控制.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈海斌		2	0	0.0	0.0