X射线光电子能谱仪应用——特殊样品测量及复杂图谱解析

• 作者: 谢景林
• 来源期刊: 现代仪器与医疗
• 关键词: 光电子能谱 样品处理 曲线拟合 Ce Fe
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 所属期刊栏目: 综述与专论
• 页码范围: 16-20
• 页数: 5页
• 分类号: TH74
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-7916.2009.05.003

摘要

X射线光电子能谱(XPS)是材料表面元素定性和半定量分析的重要手段之一.在XPS测量实验中,使用绝缘方法来安置导电不均匀样品到导电的样品台上进行常规XPS测量,方便地得到满意的图谱数据;在数据处理中,针对扫描谱图中的峰位、峰强度、峰宽和峰形等情况,利用XPX图谱分析软件的拟合分析功能,对多价态混合的复杂样品(例如:Ce和Fe的多价态样品)的XPS图谱进行处理,采用单一价态的实验数据为模版对混合图谱进行拟合处理,比较容易地获得常规方法不易得到的不同价态的定性及半定量结果.本文对以上方法分别作举例说明.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谢景林	北京大学化学与分子工程学院	8	52	4.0	7.0