EILog高分辨率双侧向井眼影响及校正效果分析

• 作者: 冯琳伟 孙宝佃 成志刚 钮宏 顾庆荣
• 来源期刊: 测井技术
• 关键词: 高分辨率双侧向测井仪器(HRDL) 井眼校正 数值模拟 最优化方案 低电阻率响应 测井系统
• 年，卷（期）: 2009,（6）
• 所属期刊栏目: 方法研究
• 页码范围: 530-534
• 页数: 5页
• 分类号: P631.22
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-1338.2009.06.007

摘要

高分辨率双侧向测井仪(HRDL)是EILog测井系统中重要的常规测井仪器之一.该仪器在保持常规双侧向测井探测深度的基础上,具有电极系短、纵向分辨率高(0.4 m)、易于现场组合测井等优点.但是,高分辨率双侧向过聚焦工作原理使得井眼影响复杂,在低电阻率地区井眼影响非常严重,深、浅侧向测量值往往高于常规双侧向测井测量值,必须进行有效的井眼校正.电极系特性不同,高分辨率双侧向经过井眼校正后的曲线与常规双侧向接近,局部会有差异.除视电阻率外,井径和泥浆电阻率是井眼校正中的2个关键参数.通过对高分辨率双侧向测井井眼校正图版分析,说明低电阻率区块进行井眼校正的必要性,给出仪器理论地层模型低电阻率测井响应对比.利用最优化方法分段拟合的井眼校正算法已集成到地面采集软件中,并且可以进行全井段实时校正.在大部分低电阻率地区,深、浅侧向测量曲线经过有效的井眼校正,可以明显改善测量曲线的质量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	冯琳伟		10	120	6.0	10.0
2	成志刚		32	196	8.0	11.0
3	孙宝佃		14	256	9.0	14.0
4	钮宏		2	17	2.0	2.0
5	顾庆荣		1	11	1.0	1.0