红外热像仪在电子设备热设计检查中的应用

• 作者: 张蕊 汪凯蔚
• 来源期刊: 环境技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电子设备 热设计 热像仪
• 年，卷（期）: 2009,（2）
• 所属期刊栏目: 环境适应性和可靠性
• 页码范围: 19-23
• 页数: 5页
• 分类号: TP3
• 字数: 2328字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-7204.2009.02.007

摘要

在电子设备的研制和设计阶段,热测试与分析是热设计中的重要环节.本文阐述了利用红外热像仪时电子设备关键部位进行热测试,检测电子设备内部温度分布情况,并与设计目标进行比较与纠正,从而达到热设计的最终目的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张蕊		2	7	2.0	2.0
2	汪凯蔚		1	4	1.0	1.0