工业X-CT散射校正技术综述

• 作者: 包尚联 张峰 李建新 李磊 闫镔
• 来源期刊: CT理论与应用研究
• 学科: 工学
• 关键词: X射线 工业CT 散射校正 蒙特卡罗模拟 射束衰减网格 初级射线调制
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 34-43
• 页数: 10页
• 分类号: TP391.41
• 语种: 中文

摘要

在工业X-CT成像系统中,散射现象对重建图像的质量有重要的影响,一直是CT研究的热点之一.随着工业X-CT系统的最新发展,锥束CT也逐渐被广泛应用,由于成像质量要求高,散射成二维分布,及新型平板探测器的应用,对散射校正带来更大的挑战.在传统的散射校正方法基础上,近几年出现了众多新的校正方法.本文首先分析了散射干扰的形成原理,介绍了散射评估方法,同时又对目前主要的几种校正方法进行了归纳总结,并对散射校正研究的发展趋势进行了展望.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	包尚联	北京大学医学物理和工程北京市重点实验室	103	692	13.0	20.0
2	李磊	信息工程大学电子科学与技术系	41	260	9.0	14.0
3	李建新	信息工程大学电子科学与技术系	17	106	7.0	9.0
4	闫镔	信息工程大学电子科学与技术系	54	384	11.0	17.0
5	张峰	信息工程大学电子科学与技术系	16	144	8.0	11.0