基于数据质量的机电系统BIT虚警研究

• 作者: 刘猛 石山
• 来源期刊: 航天控制
• 学科: 工学
• 关键词: BIT虚警 数据质量 故障检测率
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 所属期刊栏目: 可靠性、安全性和维修性
• 页码范围: 94-97
• 页数: 4页
• 分类号: TP391.9
• 字数: 3197字
• 语种: 中文

摘要

机电系统机内自测试(BIT)虚警问题一直是困扰其发展和应用的重要因素.本文首先明确了数据质量在机电BIT检测过程中的作用,对数据质量的属性及数据异常判断方法做了简要介绍.在分析了数据异常将可能导致BIT虚警之后,提出在BIT诊断和决策前加入数据异常判断环节,分析结果表明,此方法能够有效地降低机电BIT系统虚警率,提高其故障检测率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	石山	空军工程大学工程学院	20	32	3.0	4.0
2	刘猛	空军工程大学工程学院	1	1	1.0	1.0