温度对X80管线钢钝化膜电化学性能的影响

• 作者: 左剑恶 李金波
• 来源期刊: 中国腐蚀与防护学报
• 学科: 工学
• 关键词: X80管线钢 钝化膜 点缺陷模型
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 40-43
• 页数: 4页
• 分类号: TG172.3
• 字数: 2402字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-4537.2009.01.008

摘要

应用电化学阻抗谱(EIS)技术研究了温度对X80管线钢在模拟土壤环境中所成钝化膜电化学性能的影响,同时应用点缺陷(PDM)模型分析了温度对钝化膜电化学性能的影响.结果表明:随着成膜温度的升高,钝化膜的稳态电流增大,膜内施主密度增加,膜电阻、传递电阻及离子在膜内的扩散系数D减小,其原因在于温度升高,钝化膜内的氧空位数量增加.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	左剑恶	清华大学环境科学与工程系	94	2457	28.0	46.0
2	李金波	清华大学环境科学与工程系	4	59	4.0	4.0