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摘要:
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ICP-MS法测定高纯碳化硅粉表面的痕量杂质
ICP-MS
高纯碳化硅粉
表面杂质
采用辉光放电质谱仪测定高纯铝中痕量元素
辉光放电质谱法
痕量杂质测定
高纯铝
高纯氢中微量杂质的微气相色谱分析
氚工厂
微气相色谱
杂质气体
定量分析
氦中痕量杂质气体气相色谱检测分析方法研究
聚变堆
氘氚燃料
气相色谱
放电离子化检测器
杂质气体分析
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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(/年)
文献信息
篇名 高纯氢中痕量杂质变温浓缩装置及方法
来源期刊 上海计量测试 学科 工学
关键词 高纯氢 变温浓缩 痕量杂质
年,卷(期) 2009,(5) 所属期刊栏目 学术论文
研究方向 页码范围 28-30,33
页数 4页 分类号 TB9
字数 3245字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1673-2235.2009.05.009
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 陈鹰 34 66 5.0 6.0
2 黄海星 5 7 2.0 2.0
3 沈斌 2 2 1.0 1.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (0)
共引文献  (0)
参考文献  (1)
节点文献
引证文献  (0)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
1995(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2009(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
高纯氢
变温浓缩
痕量杂质
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
上海计量测试
双月刊
1673-2235
31-1424/TB
大16开
上海市宜山路716号
4-769
1973
chi
出版文献量(篇)
3176
总下载数(次)
7
总被引数(次)
5260
论文1v1指导