基于ARM7的硅钢片铁损测试仪

• 作者: 杭亮 苏英俩 顾伟驷
• 来源期刊: 机电工程
• 学科: 工学
• 关键词: 硅钢片 单片 铁损 磁通密度 测量
• 年，卷（期）: 2009,（3）
• 所属期刊栏目: 电气与仪表技术
• 页码范围: 47-49
• 页数: 3页
• 分类号: TM936.5
• 字数: 2502字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4551.2009.03.014

摘要

铁损是评价硅钢片质量好坏的一个重要指标,介绍了一种运用ARM7智能芯片对单片硅钢片铁损进行自动测量的系统,从理论与实际运用两方面探讨了如何在不同磁通密度下对不同厚度和密度的单片硅钢片的铁损测量,并对系统的主要部分进行了介绍,包括励磁机构、电源以及软件设计.实验结果表明,该铁损测试仪器具有成本低、可靠性高、扩充和维护方便等优点,具有一定的推广应用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	顾伟驷	浙江工业大学信息学院	23	62	5.0	7.0
2	苏英俩	浙江工业大学信息学院	3	3	1.0	1.0
3	杭亮	浙江工业大学信息学院	1	2	1.0	1.0