学习术语——漏率

• 作者: 方珍 郑天丕
• 来源期刊: 机电元件
• 学科: 工学
• 关键词: 漏率 标准 基准点 校正
• 年，卷（期）: 2009,（2）
• 所属期刊栏目: 试验与检测
• 页码范围: 46-47
• 页数: 2页
• 分类号: TM503+.5
• 字数: 1614字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6133.2009.02.012

摘要

浅论在分子流的条件下,影响漏率的几个因素及其校正的基准点;不同标准不同定义的危害性和校正计算的基准点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑天丕		33	53	5.0	6.0
2	方珍		25	35	3.0	5.0