电子产品寿命预测中BS模型法的应用

• 作者: 李刚 韩九强 马彦恒
• 来源期刊: 兵工学报
• 学科: 工学
• 关键词: 雷达工程 电子产品 寿命预测 BS模型 加速试验
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 页码范围: 551-554
• 页数: 4页
• 分类号: TN602
• 字数: 3177字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-1093.2009.05.008

摘要

本文研究了BS模型在电子产品寿命预测中的应用.电子产品的退化类型类似于材料的疲劳,依据电子产品寿命与电应力、环境应力的关系,采用加速寿命试验的方法,加速电子产品故障规律的显现,能够在短时间内获取加速应力下的BS模型参数,避免因电子产品寿命较长所造成的获取BS模型参数的困难.利用灰色预测理论,根据电子产品在加速应力下的BS模型参数推测正常应力下的BS模型参数,并据此进行寿命预测.最后以某型雷达电源板为例进行实例分析,验证此方法的可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩九强		109	903	16.0	24.0
2	李刚		111	584	12.0	16.0
3	马彦恒		60	275	9.0	13.0