影响密度锁内热-冷流体分界面因素的实验研究

• 作者: 孙福荣 谷海峰 阎昌琪
• 来源期刊: 应用科技
• 学科: 工学
• 关键词: 密度锁 分界面 温度场 影响因素
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 所属期刊栏目: 核科学与技术
• 页码范围: 57-60
• 页数: 4页
• 分类号: TK124
• 字数: 2733字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-671X.2009.04.015

摘要

对3种不同管径的实验管段进行实验,研究稳态工况下扰动和热-冷流体温度差对密度锁内热-冷流体分界面位置的影响.结果表明,随着扰动的增大,扰动产生的湍流作用逐渐增强,从而使稳定的分界面向下移动;而温度差的增大,使热流体向冷流体的传热能力增强,导致分界面的位置下降.另外,对不同管径的实验管段的研究表明,在密度锁内布置一个蜂窝结构可有效地抑制扰动作用,使其内部的分界面更稳定.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	阎昌琪	哈尔滨工程大学核科学与技术学院	236	1708	18.0	24.0
2	谷海峰	哈尔滨工程大学核科学与技术学院	44	107	6.0	8.0
3	孙福荣	哈尔滨工程大学核科学与技术学院	3	7	2.0	2.0