浅议继电器寿命实验

• 作者: 方珍 郑天丕
• 来源期刊: 机电元件
• 学科: 工学
• 关键词: 寿命试验 失效判据 公差 试验电路
• 年，卷（期）: 2009,（2）
• 所属期刊栏目: 试验与检测
• 页码范围: 43-45
• 页数: 3页
• 分类号: TM58
• 字数: 2481字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6133.2009.02.011

摘要

本文简单介绍了继电器寿命试验设备的要求,监测项目及触点失效判据、应力公差及电路调试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑天丕		33	53	5.0	6.0
2	方珍		25	35	3.0	5.0