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P型半导体氧化锌薄膜的Raman光谱研究
P型半导体氧化锌薄膜的Raman光谱研究
作者:
孔晋芳
沈文忠
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
P型ZnO薄膜
Raman光谱
耦合模
声子衰变
态密度
摘要:
本文主要对超声喷雾热解方法生长在本征Si衬底上的N-In共掺的P型ZnO薄膜的Raman光谱进行了研究.通过洛仑兹(Lorentz)模型和等离子激元与纵光学声子耦合模理论模型拟合不同浓度下的室温Raman光谱,我们对样品的Raman峰进行了指认;同时也得到了样品的空穴浓度和迁移率,结果和霍耳测量得到的空穴浓度和迁移率符合的较好,证明了霍耳测量P型ZnO薄膜得到的电学参数是可信的.随后我们又对不同浓度的P型ZnO薄膜的变温Raman光谱进行研究,运用一个详细的模型(考虑了晶格热膨胀、残余应力、和三声子、四声子衰变)描述不同浓度下各个样品Raman光谱中的等离子激元与纵光学声子耦合模随温度变化的情况.分析拟合参数,可以清楚地了解随着浓度的增加耦合模参数随温度的衰变行为.
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文献信息
篇名
P型半导体氧化锌薄膜的Raman光谱研究
来源期刊
光散射学报
学科
物理学
关键词
P型ZnO薄膜
Raman光谱
耦合模
声子衰变
态密度
年,卷(期)
2009,(1)
所属期刊栏目
材料研究中的应用
研究方向
页码范围
29-36
页数
8页
分类号
O472+.3
字数
5046字
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
沈文忠
上海交通大学凝聚态物理与光电子实验室
35
210
7.0
13.0
2
孔晋芳
上海交通大学凝聚态物理与光电子实验室
1
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节点文献
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Raman光谱
耦合模
声子衰变
态密度
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光散射学报
主办单位:
中国物理学会光散射专业委员会
四川省物理学会
出版周期:
季刊
ISSN:
1004-5929
CN:
51-1395/O4
开本:
大16开
出版地:
成都市四川大学物理科学与技术学院
邮发代号:
创刊时间:
1988
语种:
chi
出版文献量(篇)
1525
总下载数(次)
3
总被引数(次)
6726
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