电子元器件电离辐射试验结果与分析

• 作者: 唐萍 张龙
• 来源期刊: 现代测量与实验室管理
• 学科: 工学
• 关键词: 电离辐射 总剂量效应 失效率 可靠度 辐射设计余量
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 所属期刊栏目: 计量测试
• 页码范围: 17-18
• 页数: 2页
• 分类号: TB98
• 字数: 1717字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-8764.2009.05.006

摘要

本文在元器件电离辐射(总剂量)试验的基础上,分析了元器件性能下降的趋势,并探讨将可靠性理论引入辐射设计余量(RDM)计算的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张龙		7	0	0.0	0.0
2	唐萍	中国科学院咨询科学与应用研究中心	9	108	4.0	9.0