电感耦合等离子体发射光谱法测定工业硅中微量元素

• 作者: 沙艳梅
• 来源期刊: 岩矿测试
• 学科: 化学
• 关键词: 多元光谱拟合 电感耦合等离子体发射光谱法 微量元素 工业硅
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 所属期刊栏目: 实验技术
• 页码范围: 72-74
• 页数: 3页
• 分类号: O657.31
• 字数: 3300字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0254-5357.2009.01.012

摘要

采用电感耦合等离子体发射光谱法同时测定工业硅中可能存在的铝、铁、钙、镁、钾、钠、磷、钡、铍、镉、铈、钴、铬、铜、锂、锰、钼、镍、铅、钛、钒、钨、锌、砷、锶、铼、锑、硼28个微量元素,并以差减法计算基体硅的含量,实现了对试样基体及杂质元素含量的同时测定.方法对28个微量元素的回收率为94.0%～103.4%,精密度(RSD,n=10)低于3.0%.方法经国家实物标准物质验证,测定值与标准值基本相符.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沙艳梅		4	42	3.0	4.0