热电薄膜平面内热电性能测量技术

• 作者: 唐耿平 程海峰 穆武第
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 热电薄膜 Seebeck系数 电导率
• 年，卷（期）: 2009,（7）
• 所属期刊栏目: 研究与设计
• 页码范围: 62-65
• 页数: 4页
• 分类号: TM913
• 字数: 2945字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-7300.2009.07.017

摘要

介绍了一种测量热电薄膜平面内Seebeek系数和电导率一体化的测量装置.本装置可用于测量室温到300℃温度范围内薄膜材料平面内Seebeek系数和电导率,测量过程简单,测量成本低,且不会对薄膜造成损伤.实验证明,在薄膜两端沉积一层导电性好的铜膜后,该测量装置完全可以忽略接触电阻的影响,使得测量稳定性好,精度高,可满足纳米薄膜热电材料的Seebeck系数和电导率的一体化测量的要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	程海峰	国防科技大学新型陶瓷纤维及其复合材料国防科技重点实验室	109	1599	24.0	33.0
2	唐耿平	国防科技大学新型陶瓷纤维及其复合材料国防科技重点实验室	35	437	12.0	20.0
3	穆武第	国防科技大学新型陶瓷纤维及其复合材料国防科技重点实验室	6	62	3.0	6.0