交流系统强度与所联直流输电系统换相失败关系研究

• 作者: 任永生 刘建 李兴源 王晓丽 艾飞 韦立
• 来源期刊: 四川电力技术
• 学科: 工学
• 关键词: 换相失败 CIGRE HVDC模型 短路比(SCR) 多馈入直流输电系统(MIDC) 同时换相失败
• 年，卷（期）: 2009,（3）
• 所属期刊栏目: 基金栏目
• 页码范围: 1-4,35
• 页数: 5页
• 分类号: TM732
• 字数: 3083字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-6954.2009.03.001

摘要

从换相失败的本质原因出发,研究不同短路比对OGRE HVDC模型换相过程的影响.研究表明,增大交流系统强度可减小系统波动,加速系统的恢复过程.在CIGRE HVDC模型的基础上,建立双馈入直流输电系统,探讨故障及非故障交流系统强度对多馈入直流输电系统同时换相失败的影响.计算结果表明,增大非故障交流系统强度有利于避免同时换相失败,而增大故障交流系统强度对于避免同时换相失败基本无效.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李兴源	四川大学电气信息学院	449	9176	47.0	76.0
2	刘建	四川大学电气信息学院	36	128	6.0	10.0
3	王晓丽		3	46	2.0	3.0
4	艾飞	四川大学电气信息学院	7	52	3.0	7.0
5	任永生		1	15	1.0	1.0
6	韦立		1	15	1.0	1.0