基于VXI总线的开放式综合测试系统研究

• 作者: 吴晓洁 翟正军 郭琳娜
• 来源期刊: 微处理机
• 学科: 工学
• 关键词: VXI总线 开放式系统 体系结构
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 所属期刊栏目: 微机软件
• 页码范围: 137-139
• 页数: 3页
• 分类号: TP302
• 字数: 2716字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-2279.2009.01.043

摘要

结合VXI总线的特点和开放式系统的要求,提出了一种基于VXI总线的开放式综合测试系统的体系结构,并把该体系结构划分为三个层次,即基础层、系统层和应用层.在实现方法上,采用开放式和模块化的软件设计思想,实现了综合测试系统软件模块的重用和扩充;采用VXI总线实现了综合测试系统硬件模块的互换,从而满足了综合测试系统开放性的要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	翟正军	西北工业大学计算机学院	159	1607	22.0	32.0
2	吴晓洁	西北工业大学计算机学院	4	8	2.0	2.0
3	郭琳娜	西北工业大学计算机学院	2	2	1.0	1.0