介质覆层对圆柱共形微带天线性能的影响研究

• 作者: 张智军 王俊鸣 郭博 陈汉辉
• 来源期刊: 弹箭与制导学报
• 关键词: 互易定理 圆柱共形微带天线 有限元法
• 年，卷（期）: 2009,（2）
• 所属期刊栏目: 相关技术
• 页码范围: 251-253
• 页数: 3页
• 分类号: TN82
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-9728.2009.02.069

摘要

研究了圆柱共形微带天线加载介质层对天线性能的影响.首先采用互易定理分析了加载介质层后圆柱共形微带天线辐射特性,然后运用有限元法计算了天线的方向图,与文献结果进行了比较,验证了程序的有效性.最后,对不同介质覆层厚度和不同覆盖层介电常数下天线的散射参数和辐射方向图进行了仿真.结果表明,圆柱共形微带天线加载介质层后,天线的谐振频率产生了漂移而且阻抗带宽明显降低,介质层厚度对天线阻抗带宽的影响较大,而介电常数的影响相对较小.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张智军	空军工程大学工程学院	52	249	8.0	13.0
2	郭博	空军工程大学工程学院	5	20	2.0	4.0
3	陈汉辉	空军工程大学工程学院	6	38	4.0	6.0
4	王俊鸣	空军工程大学工程学院	5	38	4.0	5.0