应用同位素稀释质谱法原理准确测量锂同位素丰度

• 作者: 余春荣 刘勇 袁莉 邓大超 魏兴俭
• 来源期刊: 核化学与放射化学
• 学科: 化学
• 关键词: 同位素稀释质谱法 锂同位素 系统偏差校正
• 年，卷（期）: 2009,（2）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 79-83
• 页数: 5页
• 分类号: O614.111
• 字数: 4075字
• 语种: 中文

摘要

研究了基于同位素稀释质谱法原理准确测定锂同位素丰度的方法,编制方法的求解方程.对样品和稀释剂进行了纯化,用ICP发射光谱测定了其杂质元素总量,配制样品和稀释剂溶液.用质量法配制样品和稀释剂的混合溶液,用热电离质谱法测量了同位素丰度比值.计算得到方法的系统偏差校正因子为0.992 0.通过测量IRMM 016锂同位素标准物质得到的校正因子与本方法的校正因子一致,验证了方法的可靠性.用校正因子校正样品和稀释剂的同位素丰度比的测量值,得到准确值.同时,评定了方法的不确定度.结果显示,在95%的置信水平下,应用这种方法测定锂样品同位素丰度比值,其相对扩展不确定度为0.26%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	余春荣		19	13	2.0	2.0
2	袁莉		11	13	2.0	3.0
3	刘勇		44	208	8.0	12.0
4	魏兴俭		14	27	3.0	4.0
5	邓大超		11	166	4.0	11.0