一种前端ASIC芯片测试系统的设计与实现

• 作者: 千奕 孔洁 李小刚 苏弘 董成富 马晓莉
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 工学
• 关键词: 测试系统 硬件设计 I2C CPLD ASIC芯片
• 年，卷（期）: 2009,（9）
• 所属期刊栏目: 核电子学与仪器
• 页码范围: 701-705
• 页数: 5页
• 分类号: TL8
• 字数: 2632字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2009.09.014

摘要

介绍了一种专用集成电路芯片性能测试系统的设计与实现,该芯片适用于构建硅探测器前端读出电子学.描述了测试系统主要硬件电路设计,基于CPLD的快读出控制时序发生模块的实现,利用并口线来模拟I2C总线的方法,系统的调试和主要性能的分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李小刚	中国科学院近代物理研究所	37	238	9.0	14.0
2	苏弘	中国科学院近代物理研究所	88	364	9.0	15.0
3	马晓莉	中国科学院近代物理研究所	36	202	7.0	12.0
4	董成富	中国科学院近代物理研究所	21	89	6.0	7.0
5	千奕	中国科学院近代物理研究所	21	80	5.0	8.0
6	孔洁	中国科学院近代物理研究所	16	25	3.0	4.0