光谱辐射测量金属薄膜桥电爆炸温度

• 作者: 刘桂林 李国新 焦清介 王广海
• 来源期刊: 含能材料
• 学科: 工学
• 关键词: 军事化学与烟火技术 Ni-Cr薄膜 电爆炸 光谱
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 616-618
• 页数: 3页
• 分类号: TJ450.1
• 字数: 1730字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-9941.2009.05.027

摘要

采用光谱辐射法测量了Ni-Cr金属薄膜桥的电爆炸温度.通过六通道瞬态光学高温计测量金属薄膜桥电爆炸时在514 nm、631 nm、692 nm、715 nm、910 nm、1068 nm波长处的辐照强度,根据黑体辐射理论计算温度值.研究表明,金属薄膜桥在50 V、100 μF条件下电爆炸时的最高温度在5000 K左右,4000 K以上持续时间为300 ns.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	焦清介	北京理工大学爆炸科学与技术国家重点实验室	178	1313	16.0	21.0
2	李国新	北京理工大学爆炸科学与技术国家重点实验室	29	198	6.0	13.0
3	王广海	北京理工大学爆炸科学与技术国家重点实验室	8	31	3.0	5.0
4	刘桂林	北京理工大学爆炸科学与技术国家重点实验室	2	8	2.0	2.0