HPGeγ谱仪效率曲线的拟合

• 作者: 刘国平 李梅 牟婉君
• 来源期刊: 辐射防护通讯
• 关键词: HPGeγ谱仪 效率刻度 拟合
• 年，卷（期）: 2009,（6）
• 所属期刊栏目: 经验交流
• 页码范围: 35-37
• 页数: 3页
• 分类号: TL84
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-6356.2009.06.008

摘要

对HPGeγ谱仪探测效率在39.52～1 408 keV能区进行分段多项式拟合及整个区域一次拟合,并对两种拟合方式进行了比较.结果表明:在实验能区内,整体一次多项式拟合的计算相对简单,但分段拟合获得数据更为准确.用两种拟合函数对标准源及样品的活度进行分析,分段拟合方式的结果优于整体一次多项式拟合.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	牟婉君	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	32	96	6.0	8.0
2	李梅	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	16	56	5.0	6.0
3	刘国平	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	45	133	7.0	7.0