无铁污染法制备高纯超细结晶型硅微粉的研究

• 作者: 蒋述兴
• 来源期刊: 化工矿物与加工
• 学科: 工学
• 关键词: 聚氨酯 搅拌磨 无铁污染 结晶硅徽粉 制备
• 年，卷（期）: 2009,（7）
• 所属期刊栏目: 试验研究
• 页码范围: 15-18
• 页数: 4页
• 分类号: TD971
• 字数: 3548字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-7524.2009.07.005

摘要

以高硬度钇稳定氧化锆球为研磨介质,对衬聚氮酯搅拌磨无铁污染法翻备高纯超细结晶硅徽粉进行了研究.研究了结晶硅徽粉粒径特征参数D50随搅拌粉磨时间延长的变化规律,考察了钇稳定氧化锆球对结晶硅徽粉的污染程度,探讨了1 μm以下结晶硅徽粉的形貌特征.实验结果证明:用该搅拌磨磨细石英砂并经过沉降分级,可获得SiO2质量分数为99.91%,粒径为1 μm以下的高纯超细结晶硅徽粉,不经分级可以获得粒径为61.5 μm以下占99.99%的结晶硅徽粉,但难以获得球形结晶硅徽粉;钇稳定氧化锆珠对结晶硅徽粉的污染程度小,磨损带进的ZrO2杂质仅占0.0246%,带进的Y2O3杂质为0.0014%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蒋述兴	桂林工学院有色金属及材料加工新技术教育部重点实验室	26	187	10.0	12.0