光电探测器的电噪声及其应用

• 作者: 何亮 杜磊 林丽艳 陈文豪
• 来源期刊: 红外
• 学科: 工学
• 关键词: 电噪声 光电探测器 缺陷 质量 可靠性
• 年，卷（期）: 2009,（12）
• 页码范围: 33-38
• 页数: 6页
• 分类号: TN364
• 字数: 3450字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-8785.2009.12.007

摘要

电噪声检测方法正在成为一种无损的电子器件可靠性表征手段,而人们对其在光电探测器方面应用的研究还较少.本文在总结光电探测器电噪声类型及产生机理的基础上,分析了光电探测器与电噪声相关的各项性能参数.电噪声不仅是影响光电探测器性能的重要物理量,而且与光电探测器材料缺陷、界面缺陷及深能级陷阱存在相关性.构造的适当噪声参量可以表征光电探测器中的上述缺陷.与电噪声相关的缺陷往往是导致器件失效的因素,借鉴电噪声用于金属-氧化物-半导体场效应晶体管质量和可靠性表征的方法,本文提出了电噪声在表征光电探测器质量和可靠性方面的应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杜磊	西安电子科技大学技术物理学院	99	486	13.0	18.0
2	何亮	西安电子科技大学技术物理学院	36	212	7.0	14.0
3	陈文豪	西安电子科技大学技术物理学院	15	128	6.0	11.0
4	林丽艳	西安电子科技大学技术物理学院	3	46	3.0	3.0