样本含噪情况下相关处理增益损失分析

• 作者: 华云
• 来源期刊: 中国电子科学研究院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 含噪样本 互相关 处理增益损失
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 所属期刊栏目: 基础理论
• 页码范围: 391-394
• 页数: 4页
• 分类号: TN973
• 字数: 2046字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-5692.2009.04.012

摘要

利用互相关处理对辐射源信号进行检测是提高侦收系统灵敏度的一种有效手段.通常情况下,互相关的样本信号是通过天线接收辐射源的直达信号得到的,因此样本信号不可避免的会含有噪声.尤其是当信号功率较为微弱的情况下,样本的信噪比会较差.使用含有噪声的样本信号进行互相关处理时,样本中的噪声会抬高相关后的噪声基底,导致处理增益下降.通过理论分析得出了样本含噪情况下的相关处理增益,以及相对无噪理想样本情况下相关处理增益损失和样本信噪比之间的关系,并通过计算机仿真,证实了这个结论的正确性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	华云		7	28	3.0	5.0