开关频率及线圈层数、高度对变压器铜损的影响

• 作者: 姚伟 张周胜 肖登明
• 来源期刊: 上海电机学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 开关频率 分布参数 高频变压器 铜损 最优层数
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 所属期刊栏目: 机电工程
• 页码范围: 5-9
• 页数: 5页
• 分类号: TM433
• 字数: 2952字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2095-0020.2009.01.002

摘要

研究了开关频率对铜损的影响,及其与变压器的分布参数及负载特性有直接的关系:在负载特性与分布参数一起呈感性特性时,铜损随开关频率的提高而减小;一起呈容性特性时,铜损随开关频率的提高而增大;当一起呈谐振特性时,铜损最大.针对减小铜损的高频变压器最优参数,分析了线圈层数和线圈高度2个参数的最优化.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	肖登明	上海交通大学电子信息与电气工程学院	136	1787	24.0	37.0
2	姚伟	上海交通大学电子信息与电气工程学院	14	88	6.0	9.0
3	张周胜	上海交通大学电子信息与电气工程学院	8	85	6.0	8.0