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一种微处理器样片的伪随机自验证方法
一种微处理器样片的伪随机自验证方法
作者:
李强
蒯明慧
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
微处理器
样片
伪随机
自验证
参考模型
摘要:
本文简要介绍了伪随机验证方法,并针对微处理器样片在系统环境下的验证,提出了一种结合伪随机验证技术和自验证思想的方法,实现了在微处理器样片上的海量伪随机指令自动验证.
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文献信息
篇名
一种微处理器样片的伪随机自验证方法
来源期刊
高性能计算技术
学科
工学
关键词
微处理器
样片
伪随机
自验证
参考模型
年,卷(期)
2009,(2)
所属期刊栏目
高性能计算热点技术
研究方向
页码范围
36-40
页数
5页
分类号
TP368.1
字数
语种
中文
DOI
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作者信息
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姓名
单位
发文数
被引次数
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1
李强
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蒯明慧
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2009(0)
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二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
微处理器
样片
伪随机
自验证
参考模型
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
高性能计算技术
主办单位:
中国人民解放军总参第五十六研究所
出版周期:
双月刊
ISSN:
CN:
32-1679/TP
开本:
出版地:
江苏省无锡33信箱353号
邮发代号:
创刊时间:
语种:
chi
出版文献量(篇)
1235
总下载数(次)
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总被引数(次)
1405
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