直线特征标志子像素级定位方法的研究

• 作者: 傅锦伟 刘帅 朱建军 李俊生 赵伶俐
• 来源期刊: 测绘工程
• 学科: 地球科学
• 关键词: Hough变换 子像素 直线特征标志 灰度矩
• 年，卷（期）: 2009,（2）
• 所属期刊栏目: 学术研究
• 页码范围: 12-15
• 页数: 4页
• 分类号: P231.5
• 字数: 3036字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-7949.2009.02.004

摘要

在近景摄影测量中,常常需要对直线特征的标志进行定位,而标志定位的精度会影响到整个测量的精度.提出一种新的混合方法,即采用Hough变换对直线特征标志进行直线检测,得到直线初值;然后采用灰度矩边缘直线拟合定位法,对标志点中心进行子像素定位.在三维重建实验中采用所提出的灰度矩边缘直线拟合定位法和高精度直线定位法进行精度比较,实验证明经过Hough变换得到粗值的灰度矩边缘直线拟合定位法达到较高的定位精度,且计算更简单.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱建军	中南大学信息物理工程学院	310	4113	31.0	51.0