基于衍射和反射回波的相控阵超声缺陷定量——第十七届世界无损检测会议专题报道之一

• 作者: 李衍 王艳丽
• 来源期刊: 无损探伤
• 学科: 工学
• 关键词: 超声检测 相控阵 缺陷定量 衍射回波 反射回波
• 年，卷（期）: 2009,（3）
• 所属期刊栏目: 科研与生产
• 页码范围: 1-4
• 页数: 4页
• 分类号: TG115.28
• 字数: 2616字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-4423.2009.03.001

摘要

介绍对平面状缺陷:根据上下端点的衍射回波间距,对体积状缺陷:根据主反射回波与二次回波问距,用超声相控阵扇形(S型)扫描图像进行定量的方法.实验表明:用此法对缺陷表征、定量,简易快捷,结果可靠.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王艳丽		5	11	2.0	3.0