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摘要:
阐述了导致高压硅堆损坏的原因,并对其导通前后的电路特征和过渡过程进行了分析.根据二阶系统特性,提出采用缓冲电阻的方法来抑制工作放电中出现的冲击电压和冲击电流,防止硅堆损坏.由于缓冲电阻增人了系统的阻尼比,因此有效地抑制了系统振荡,保护了硅堆.同时,仿真和实验验证了高压硅堆损坏原因分析的正确性.
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文献信息
篇名 脉冲电源中高压硅堆保护的研究
来源期刊 电力电子技术 学科 工学
关键词 电源 脉冲 保护/高压硅堆
年,卷(期) 2009,(4) 所属期刊栏目 装置与应用
研究方向 页码范围 47-49
页数 3页 分类号 TM89
字数 3166字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-100X.2009.04.019
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 栗保明 143 825 14.0 19.0
2 李贞晓 23 123 7.0 9.0
3 林庆华 23 155 8.0 11.0
传播情况
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引文网络
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2020(5)
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  • 二级引证文献(5)
研究主题发展历程
节点文献
电源
脉冲
保护/高压硅堆
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电力电子技术
月刊
1000-100X
61-1124/TM
大16开
西安朱雀大街94号
52-44
1967
chi
出版文献量(篇)
7330
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19
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