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摘要:
结合薛定谔方程和泊松方程,模拟计算得到GaAs/AlGaAs多量子阱红外探测器外延材料能带图,并对该材料进行光致荧光谱(PL)测量.结合理论计算,由材料吸收峰位置得到势垒高度以及势阱基态位置,采用传输矩阵法得到价带与导带基态能量,并由此推算出相应的红外探测响应波长.以傅里叶变换红外光谱仪对GaAs/AlGaAs多量子阱红外探测器器件进行光谱测量,测量结果表明,所采用的计算方法得出的理论结果与器件的光电流谱吻合较好,利用光荧光谱对外延材料进行测量,可以在器件工艺前,快速确定器件的探测波长,从而更加有效地开展器件的研究.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 GaAs/AlGaAs多量子阱红外探测器外延材料PL谱研究
来源期刊 半导体光电 学科 工学
关键词 多量子阱 红外 光致荧光谱
年,卷(期) 2009,(1) 所属期刊栏目 材料、结构及工艺
研究方向 页码范围 55-58
页数 4页 分类号 TN362
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 沈光地 北京工业大学光电子实验室 192 1444 18.0 29.0
2 邓军 北京工业大学光电子实验室 57 219 7.0 10.0
3 史衍丽 41 372 8.0 18.0
4 马楠 北京工业大学光电子实验室 8 13 2.0 3.0
5 牟明威 6 74 3.0 6.0
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研究主题发展历程
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多量子阱
红外
光致荧光谱
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体光电
双月刊
1001-5868
50-1092/TN
大16开
重庆市南坪花园路14号44所内
1976
chi
出版文献量(篇)
4307
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