透射式特征X射线测厚技术实验研究

• 作者: 屈国普 胡创业 赵越 黄云
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 特征X射线 测厚系统 数据处理
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 页码范围: 81-83,104
• 页数: 4页
• 分类号: TL99
• 字数: 2176字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2009.01.020

摘要

介绍了特征X射线的测厚原理、测厚系统组成及数据处理方法,并利用铜和铁的特征X射线对纸张厚度进行了实验研究;当被测量纸张的厚度从7.2mg/cm2到43.2mg/cm2时dm与In Ⅰ曲线的相关系数达到0.999以上,测量相对误差在2%以内.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄云	南华大学核技术学院	5	20	2.0	4.0
2	屈国普	南华大学核技术学院	103	338	9.0	11.0
3	胡创业	南华大学核技术学院	23	90	6.0	8.0
4	赵越	南华大学核技术学院	39	56	4.0	5.0