用户定制边界扫描结构的设计与自动实现

• 作者: 刘兴 张盛兵 黄小平
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 边界扫描 可测性设计 EDA BSD Compiler
• 年，卷（期）: 2009,（11）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 2128-2130
• 页数: 3页
• 分类号: TP331.1
• 语种: 中文

摘要

边界扫描是一种标准化的可测性设计体系结构,已被广泛应用于板级测试、系统片上调试以及IC编程;Longtium R2<'+>微处理器的边界扫描设计采用EDA 工具BSD Compiler自动完成,缩短了设计和验证周期;主要介绍了 BSD Compiler的设计流程及配置要点,并结合Longtium R2+边界扫描逻辑的具体实现方案,提出了一种利用边界扫描逻辑实现对系统内部逻辑观察与控制的机制.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张盛兵	西北工业大学计算机学院	142	912	15.0	23.0
2	黄小平	西北工业大学计算机学院	30	89	5.0	7.0
3	刘兴	西北工业大学计算机学院	1	1	1.0	1.0