缺陷对二维四方光子晶体透射光谱的影响

• 来源期刊: 光谱实验室
• 学科: 物理学
• 关键词: 透射率光谱 光子晶体 光子禁带
• 年，卷（期）: 2009,（6）
• 页码范围: 1689-1692
• 页数: 4页
• 分类号: O436.2
• 字数: 1441字
• 语种: 中文

摘要

利用转移矩阵法研究了二维四方光子晶体中缺陷对透射光谱的影响.结果表明缺陷对TE波的影响比对TM波的影响明显,缺陷层填充比对禁带宽度影响很大,TE波禁带在填充比r/a=0.33时最宽,第一禁带的最低频率随着填充比的增加向低频移动.