微米、纳米颗粒国家标准测量装置的研究

• 作者: 崔建军 张恒 来展 邵宏伟 陈荣华
• 来源期刊: 计量学报
• 学科: 工学
• 关键词: 计量学 微米、纳米标准颗粒 扫描电子显微镜 激光干涉仪 纳米位移扫描工作台 测量不确定度 溯源
• 年，卷（期）: 2009,（z1）
• 所属期刊栏目: 溯源技术和新仪器的研制
• 页码范围: 186-188
• 页数: 3页
• 分类号: TB921
• 字数: 1619字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1158.2009.z1.048

摘要

研究的目标是建立一套可溯源至激光波长的微米、纳米颗粒国家标准测餐装置,它用扫描电子显微镜高倍数放大、对准和定位颗粒影像,采用纳米位移扫描工作台和激光干涉仪测量微米、纳米量级的标准颗粒直径,其测量标准不确定度可优于5 nm+5×10~(-3).通过文中测量认证的标准颗粒校准各类不同原理和测量范围的颗粒测量仪器,达到各型颗粒测量仪器的量值准确和统一,并溯源至激光光波波长.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	崔建军		33	122	6.0	8.0
2	邵宏伟		20	99	5.0	9.0
3	张恒		12	33	4.0	5.0
4	来展		3	5	2.0	2.0
5	陈荣华		1	1	1.0	1.0