发光二极管芯片快速检测方法的研究

• 作者: 任红茹 刘雪莲 李薇 杨茹 梁琨 王文杰 韩德俊
• 来源期刊: 半导体光电
• 学科: 工学
• 关键词: 半导体光电子学 BDJ半导体探测器 LED芯片检测 光色测量
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 所属期刊栏目: 材料、结构及工艺
• 页码范围: 90-94
• 页数: 5页
• 分类号: TL814
• 语种: 中文

摘要

介绍了一种新的发光三极管(LED)芯片的检测方法及应用.该方法利用自行研制的掩埋双pn结(BDJ)光波长探测器同时测量LED芯片的有效波长及辐射强度,具有简单、快捷、动态范围宽、探测器体积小和便于系统集成的优点,在半导体照明最感兴趣的398～780 nm波长范围内,波长测量的重复精度及分辨率优于1 nm.据此方法,对红、绿、蓝、紫四种LED芯片发光的波长及辐射强度进行了实际测量,对红绿蓝三基色发光二极管合成白光的偏色进行了检测,并与光纤光谱仪测量得到的结果进行了比较.