一维高温温度场测试技术

• 作者: 何小瓦 张虎 戴景民 辛春锁
• 来源期刊: 测试技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 温度场 比色温度计 超高温 一维扫描
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 所属期刊栏目: 测试技术与理论研究
• 页码范围: 37-41
• 页数: 5页
• 分类号: TH811.2
• 字数: 2498字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7449.2009.01.008

摘要

研制了可对一维高温温度场进行测量的扫描式高温计.该扫描式高温计分为旋转扫描式光学系统、比色高温计和上位机三个部分.在分析温度场测量要求的基础上,推导了比色光学高温计的测量原理,建立了数学模型.基于光的反射理论,研究了旋转扫描式光学系统与一维温度场之间的运动关系.利用光学光纤将光学探头接收的光信号进行远距离传输,增加了测量的便利性和整套装置对测量环境的适应能力,专用的微型工控及控制系统提高了这套装置独立工作及与其他设备进行协调合作的能力.对比色高温计的波长函数和测量精度进行了标定,校验结果表明在800℃～3 500℃范围内的测量精度为1%.最后,利用扫描式高温计对棒状碳/碳试样的轴向温度场进行了测量,通过几个固定点温度对一维温度场的测量精度进行了校验,最大测量误差为3.09%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	戴景民	哈尔滨工业大学自动检测与过程控制系统研究所	155	2676	26.0	43.0
2	辛春锁	哈尔滨工业大学自动检测与过程控制系统研究所	10	84	4.0	9.0
3	张虎	哈尔滨工业大学自动检测与过程控制系统研究所	13	59	3.0	7.0
4	何小瓦		19	247	8.0	15.0