支持边界扫描测试的电路设计

• 作者: 刘伟 李鑫
• 来源期刊: 无线电通信技术
• 学科: 工学
• 关键词: 边界扫描测试 TAP 可测试性设计
• 年，卷（期）: 2009,（6）
• 所属期刊栏目: 综合电子信息技术
• 页码范围: 42-45
• 页数: 4页
• 分类号: TP274
• 字数: 2838字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-3114.2009.06.015

摘要

基于IEEE 1149.1标准制定的边界扫描技术能够对复杂电路进行测试.并诊断出硬件问题.首先介绍了边界扫描测试电路的基本结构,针对基于边界扫描的大规模集成电路的特点,论述了为提高电路板的可测试性而采用边界扫描技术进行设计时应注意的一些基本要点,另外,还给出了能够获得良好测试性设计效果的边界扫描电路的设计方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘伟	中国电子科技集团公司第五十四研究所	45	99	7.0	8.0
2	李鑫	中国电子科技集团公司第五十四研究所	22	79	5.0	8.0