SN74ACT8990芯片在数字电路测试中的应用

• 作者: 张胜满 徐磊 王月芳 郑伟东
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: SN74ACT8990 边界扫描 测试总线控制器 指令测试 互连测试
• 年，卷（期）: 2009,（11）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 2109-2111,2114
• 页数: 4页
• 分类号: TP332.3
• 语种: 中文

摘要

SN74ACT8990作为测试总线控制器,主要用于测试数据的交互,是基于边界扫描技术的数字电路测试的核心部件;为了解决上述新兴测试技术在实际应用方面研究的不足,首先介绍了芯片的功能、基本结构以及工作原理;从硬件电路和程序设计两个方面,分别详细地介绍了一个典型的基于SN74ACT8990边界扫描测试系统的设计方法及过程;最后利用测试指令扫描和互连测试对设计的浏试系统进行了功能验证;结果表明,在数字电路测试中,采用基于SN74ACT8990的边界扫描技术能够准确地定位故障,并能初步判断故障类型,具有较高的测试效率和广阔的应用前景.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐磊		12	76	5.0	8.0
2	张胜满		2	12	2.0	2.0
3	郑伟东		2	14	2.0	2.0
4	王月芳		7	40	4.0	6.0