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摘要:
利用等离子体增强化学气相沉积(PECVD)法,在不同的温度下制备了氟化非晶碳膜.采用原子力显微镜(AFM)、X 射线光电子能谱(XPS)和傅里叶红外吸收光谱(FTIR)等仪器对薄膜微结构进行了表征.研究发现,氟化非晶碳膜微观结构与薄膜生长过程温度控制密切相关,温度升高,膜内键合结构变化,sp2相对含量增加.
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文献信息
篇名 氟化非晶碳膜的微结构分析
来源期刊 真空科学与技术学报 学科 工学
关键词 氟化非晶碳薄膜 PECVD 微结构 沉积温度
年,卷(期) 2009,(1) 所属期刊栏目 学术论文
研究方向 页码范围 38-41
页数 4页 分类号 TN304
字数 2640字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 肖剑荣 桂林工学院数理系 9 25 3.0 4.0
2 蒋爱华 桂林工学院数理系 5 2 1.0 1.0
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氟化非晶碳薄膜
PECVD
微结构
沉积温度
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真空科学与技术学报
月刊
1672-7126
11-5177/TB
大16开
北京市朝阳区建国路93号万达广场9号楼614室
1981
chi
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19905
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