1998-2004年制造的集合式电容器故障率高的原因分析

• 作者: 杜大全 苗俊杰
• 来源期刊: 河北电力技术
• 学科: 工学
• 关键词: 集合式电容器 结构 内部接线方式 内熔丝
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 所属期刊栏目: 故障分析
• 页码范围: 9-10
• 页数: 2页
• 分类号: TM531.4
• 字数: 2168字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-9898.2009.04.005

摘要

介绍集合式电容器的特点和1998-2004年间制造的集合式电容器的故障情况,从元件缺陷、内部接线方式、内部介质、内熔丝位置和未加放电电阻等结构特点入手,分析这一时期集合式电容器故障率高的原因,并有针对性地给出了结构改进的措施.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杜大全		13	43	3.0	5.0
2	苗俊杰		8	56	3.0	7.0