C276合金质子辐照损伤模拟及活化分析

• 作者: 陆道纲 陈义学 靳忠敏 韩静茹
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: C276 质子 辐照损伤 TRIM程序 活化
• 年，卷（期）: 2009,（6）
• 所属期刊栏目: 物理
• 页码范围: 501-504
• 页数: 4页
• 分类号: TL341
• 语种: 中文

摘要

C276合金是先进核电站燃料元件包壳的候选材料之一.本工作采用TRIM程序分别计算10和20 MeV质子辐照C276所产生的辐照损伤,比较分析能损、离位原子、DPA等参数分布.同时使用FISPACT-2007程序进行活化计算,对放射性活度、衰变余热及接触剂量率等参数进行了详细分析.结果表明:辐照损伤主要来自电子能损的贡献,高能质子与靶原子发生碰撞的几率较低.C276经同种能量质子辐照后,活化特性随着辐照时间的增长而增加.辐照时间相同时,高能质子会对材料产生更大的影响.本工作为后续的辐照损伤分子动力学模拟及计划开展的质子辐照实验提供支持.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈义学	华北电力大学核科学与工程学院	97	224	7.0	9.0
2	陆道纲	华北电力大学核科学与工程学院	95	402	10.0	15.0
3	韩静茹	华北电力大学核科学与工程学院	15	31	3.0	4.0
4	靳忠敏	华北电力大学核科学与工程学院	3	12	2.0	3.0