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数据卡结构与静电防护
数据卡结构与静电防护
原文服务方：
电子产品可靠性与环境试验
摘要：
本文通过一款产品遇到ESD(静电抗扰性)问题解决,说明数据卡等终端产品结构设计的好坏,直接影响产品EMC性能尤其是ESD,结构设计必须尽可能地优先考虑静电防护问题.
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文献信息
| 篇名 | 数据卡结构与静电防护 | ||
| 来源期刊 | 电子产品可靠性与环境试验 | 学科 | |
| 关键词 | 数据卡 结构 ESD | ||
| 年，卷（期） | 2009,（z1） | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 126-128 | |
| 页数 | 3页 | 分类号 | TN3 |
| 字数 | 语种 | 中文 | |
| DOI | 10.3969/j.issn.1672-5468.2009.z1.027 | ||
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研究主题发展历程
节点文献
数据卡
结构
ESD
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研究分支
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位：
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期：
双月刊
ISSN：
1672-5468
CN：
44-1412/TN
开本：
大16开
出版地：
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号：
创刊时间：
1962-01-01
语种：
中文
出版文献量（篇）
2803
总下载数（次）
0
总被引数（次）
9369
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