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光电导开关面临的问题及发展趋势
光电导开关面临的问题及发展趋势
作者:
李寅鑫
苏伟
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
光电导开关
锁定现象
综述
使用寿命
碳化硅
摘要:
光电导开关具有传统高功率脉冲器件不具备的优良性能,在产生高功率脉冲领域有很大发展潜力.使用光导开关能直接从直流电源产生电磁脉冲.根据各种应用对光导开关性能指标的不同要求,将其归纳为大功率脉冲应用与超短电磁脉冲应用两类.阐述了光电导开关在理论、实用化方面遇到的问题以及目前学术界、业界对其解决的方法.对各种解决方法做出评价并展望光导开关未来发展趋势.
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文献信息
篇名
光电导开关面临的问题及发展趋势
来源期刊
信息与电子工程
学科
工学
关键词
光电导开关
锁定现象
综述
使用寿命
碳化硅
年,卷(期)
2009,(1)
所属期刊栏目
微光机电与真空电子技术
研究方向
页码范围
56-60,65
页数
6页
分类号
TN201
字数
4982字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-2892.2009.01.015
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
苏伟
中国工程物理研究院电子工程研究所
92
541
12.0
16.0
2
李寅鑫
中国工程物理研究院电子工程研究所
8
34
4.0
5.0
传播情况
被引次数趋势
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引文网络
引文网络
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1975(1)
参考文献(0)
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参考文献(0)
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参考文献(0)
二级参考文献(1)
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参考文献(0)
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1983(1)
参考文献(0)
二级参考文献(1)
1984(1)
参考文献(0)
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1989(1)
参考文献(0)
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参考文献(0)
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研究主题发展历程
节点文献
光电导开关
锁定现象
综述
使用寿命
碳化硅
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
太赫兹科学与电子信息学报
主办单位:
中国工程物理研究院电子工程研究所
出版周期:
双月刊
ISSN:
2095-4980
CN:
51-1746/TN
开本:
大16开
出版地:
四川绵阳919信箱532分箱
邮发代号:
62-241
创刊时间:
2003
语种:
chi
出版文献量(篇)
3051
总下载数(次)
7
总被引数(次)
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