SDRAM辐照效应测试系统的研制

• 作者: 何宝平 姚志斌 张凤祁 罗伊红 郭红霞
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: SDRAM 辐照效应 测试系统
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 页码范围: 31-35,51
• 页数: 6页
• 分类号: TL8
• 字数: 3149字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2009.01.008

摘要

文章利用CPLD及DSP作为系统的核心部件,设计了最大可测256MB、32位的SDRAM辐照效应在线测试系统.系统可以动态监测辐照期间SDRAM的翻转地址、翻转数等参数,基本满足辐照效应的测试要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何宝平		46	291	9.0	13.0
2	张凤祁		40	169	8.0	10.0
3	郭红霞		81	385	10.0	13.0
4	姚志斌		35	171	8.0	10.0
5	罗伊红		1	2	1.0	1.0