裂变室镀层质量厚度的相对测量技术

• 作者: 刘荣 朱通华 林菊芳 温中伟 王大伦 王玫 蒋励 鹿心鑫
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 14MeV中子源 裂变室镀层 相对定量
• 年，卷（期）: 2009,（6）
• 所属期刊栏目: 低能加速器技术、射线技术及应用
• 页码范围: 459-463
• 页数: 5页
• 分类号: O571.5
• 字数: 4018字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2009.06.014

摘要

基于在相同的中子辐照条件下,裂变数与裂变核素的数量成正比的原理,利用加速器14 MeV中子源研究了裂变室镀层重量的相对定量方法,介绍了实验布置及所获得的定量结果.将部分定量结果与其α定量结果进行比较,差异小于1%,证明该方法用于裂变室镀层重量的测定可行,定量结果的不确定度约为2%～4%.